儀器有渦流測厚原理和磁性測厚原理之分，磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。

　　

　　淬火層測厚儀的使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準，每一種儀器都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響；對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;探頭會使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數(shù)據(jù);基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。

　　

　　高頻交流信號在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場，探頭靠近導體時，就在其中形成渦流。探頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了探頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電涂層厚度的大小。由于這類涂層測厚儀探頭專門測量非鐵磁金屬基體上的涂層厚度，所以通常稱為非磁性探頭。